BBTM-PT 精密与薄壁超声测厚探头

配备标准与小接触端的 BBTM-PT 精密薄壁超声测厚探头

产品概述

BBTM-PT 用于薄板、薄壁管、小型工件、曲面部件及有限接触区域的超声厚度测量。产品具有良好的近表面分辨率,可用于金属、塑料、复合材料、管材和涡轮叶片等工件,也适合从外部腐蚀凹坑底部测量局部壁厚。

产品提供多种频率、晶片尺寸、延迟块和接触端配置,可根据材料声学特性、厚度、曲率、接触面积和分辨率要求进行选择。

产品特点

  • 适用于薄材料、薄壁结构和小型工件的精密厚度测量
  • 良好的近表面分辨率,有助于分辨较短声程
  • 可更换延迟块,便于适配不同接触区域和工件轮廓
  • 提供高频配置,可提高薄材料及小尺寸区域的测量分辨率
  • 可选小接触端,适用于紧凑空间、曲面和局部腐蚀凹坑
  • 支持直柄、直角柄和 45° 柄等操作形式

典型应用

  • 薄板和薄壁管厚度测量
  • 管材及曲面部件测厚
  • 塑料和复合材料厚度测量
  • 涡轮叶片及小型复杂部件测厚
  • 外部腐蚀凹坑底部的局部剩余壁厚测量
  • 近表面区域检测

技术参数

参数 可选范围
测量方式 接触式超声脉冲回波测量
频率 2.25、3.5、5、7.5、10、15、20、22 MHz
晶片直径 3、5、6、13 mm
小接触端直径 1.7、2.3 mm
延迟块长度 9.5、12.5 mm
连接方式 Microdot 或 BNC 电缆,取决于配置
柄部形式 直柄、直角柄或 45° 柄
延迟块 可更换

可选配置

配置项目 可选内容
工作频率 根据材料、厚度和分辨率要求选择
晶片尺寸 3、5、6 或 13 mm
接触区域 标准延迟块或小接触端
延迟块 9.5 或 12.5 mm,可更换
操作形式 标准、笔式、直角或 45°
连接方式 Microdot 或 BNC 电缆

选型说明

较高频率适合薄材料和高分辨率测量;较小的晶片或接触端适合曲面、狭窄区域和局部测点。选型时应结合材料、目标厚度、表面曲率、接触空间及配套仪器接口。